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柴田 猛順; 小倉 浩一; 田村 浩司
真空, 40(8), p.668 - 670, 1997/00
ネオジムイオンによるネオジム清浄表面からの二次電子放出係数を衝撃イオンエネルギー0.1~3keVの範囲で測定した。ネオジム清浄表面は、ネオジム原子の蒸着により作成し、ネオジムイオンビームは、共鳴イオン化を用いたレーザーイオン源から引き出す等、新しい測定手法を工夫した。衝撃イオンエネルギー1keV以下で、二次電子放出係数は0であり、1keV以上では衝撃イオンエネルギーの1次関数で増大し、2keVでは約0.1であった。
柴田 猛順; 小倉 浩一
真空, 37(3), p.132 - 134, 1994/00
ネオジムおよびガドリニウムイオン衝撃による銅表面からの二次電子放出係数をレーザーイオン源を用いた新しい方法で衝撃エネルギー100eV~2.6keVの範囲で測定した。ネオジムおよびガドリニウムいずれのイオンについても二次電子放出を起こすのに必要なイオン衝撃エネルギーしきい値は約300eVであった。二次電子放出係数はしきい値以上でイオン衝撃エネルギーの一次関数で2keVで0.8であった。これまでの多くの測定と比較すると本測定結果はイオン衝撃エネルギーのしきい値は小さく、二次電子放出係数は非常に大きい。
